全站搜索 - pletronics高性能低抖动的产生 - 统一电子

热门关键词 : 32.768K 石英晶振温补晶振贴片晶振有源晶振谐振器 NDK晶振 KDS晶振爱普生晶振京瓷晶振雾化片

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：pletronics高性能低抖动的产生

[晶振动态]Pletronics高性能低抖动的产生2023年08月30日 11:19

石英晶振有三种量化通常用于测量的抖动:

1.相位/均方根抖动——可被视为“精细聚焦”测量。这通常被称为 “绝对抖动”,即时钟边沿位置与实际位置的总差值理想be——通常通过用网络分析仪测量信号的相位噪声来揭示(图A)；

2.峰值抖动和峰峰值抖动，其中的每一个都可以被认为是一个“过程”测量，并且是中断的归结为两个特征:

A.周期抖动(又称周期抖动)任何一个时钟周期与理想或平均时钟之间的差异周期——通常通过用示波器测量信号周期来显示(图B)，以及 B.周期间抖动——任意两个相邻时钟周期持续时间的差异。这对以下方面可能很重要微处理器和RAM接口中使用的某些类型的时钟产生电路也需要测量使用示波器(图C).

抖动性能/规格限值已由ITU-T、Telcordia等标准化机构确定还有IEEE。本地以太网(IEEE)抖动的规格和测试方法与SDH/不同 SONET/SyncE (ITU-T，Telcordia)。

阅读（645）标签：石英晶振|贴片晶振|进口晶振|有源晶振|石英晶体振荡器|小体积晶振

相关搜索

热点聚焦

统一首页石英晶振 32.768k 贴片晶振温补晶振常见问题技术支持行业新闻联系统一网站地图