- [技术优势]有关晶振负电阻的温度特性以及晶振负阻力改善方法2019年08月15日 11:26
晶振的负电阻取决于温度,负电阻根据晶振在不同的工作环境温度而变化.趋势通常是“随着从低温到高温的变化近似线性地降低”(见下图),并且梯度根据电路(所用IC,晶体谐振器等)而变化.
因此,在三个点测量负电阻温度特性：最低温度,常温和客户指定的工作环境温度范围内的最高温度.另外,晶振晶体的负电阻温度特性结果通过“三个测量的负电阻值的最低测量值(在许多情况下,高温侧)是否超过负电阻目标值”来判断.
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