- [晶振动态]测试SiTime MEMS振荡器的预测MTBF的处理和计算2019年06月22日 14:36
预计半导体元件在产品的整个寿命期间可靠地运行.选择具有最高可靠性等级的设备可以限制组件故障的可能性导致现场产品故障.SiTime提供满足此目标的振荡器,使用Sitime MEMS振荡器零故障零超过2.5亿台(截至2015年1月).
使用零故障令人印象深刻,但工程师希望确保产品充分测试可靠性.衡量半导体元件可靠性的关键指标是平均故障间隔时间或MTBF.MTBF越高,预期寿命越长设备因此设备越可靠.文中介绍了测试SiTime MEMS振荡器的预测MTBF的处理和计算.
- 阅读（186）
相关搜索
热点聚焦
- 112.99317 KX-ZTT CE MG 3213 16M陶瓷谐振器GEYER丹麦格耶晶振
- 2O 0,032768-JSO15B1TR-F-1V3-T1-RR-D 1508 MEMS TCXO 32.768K 5PP温补晶振Jauch
- 312.95101 KXO-V96T 3225 48M XO 50PP丹麦格耶Geyer有源晶振
- 4是最小的大真空KDS温补晶振1XXD16368MGA DSB211SDN 16.368M TCXO
- 5lora模块低功耗晶振供应ECS-2520MVQ-250-BN-TR
- 6兼容多种输出方式的时钟晶振十分适合数字视频CB3LV-3C-16M0000
- 7ECS发布具有里程碑意义的高性能SMD振荡器ECS-3953M-120-BN-TR
- 8LVDS差分晶振ECX2-LMV-7CN-125.000-TR用于存储区域网络应用
- 9Abracon晶振紧凑型屏蔽SMD电源汽车用电感器ASPIAIG-S6055
- 10高性能的温度补偿晶振十分适合5G网络536L24M011T5
热销料号
微信号
