文本提供振荡器出现的高能故障时间描述

文本提供振荡器出现的高能故障时间描述

高可靠性是对石英晶体振荡器其起的频率作用特定的规范时期,随着如今的石英晶振产品越来越成熟,相对恒定和低故障率,使用的时间寿命是常见的可靠性预测的时间框架,加速产品寿命测试采用高应力方法来缩短寿命产品或加速产品性能下降,各个振荡器中的压力测试包括延长的老化时间,从产品的加热,湿度,温度,振动和负载等多方面参数来进行测算它们的平均故障间隔时间.

可靠性预测方法:预测方法基于各种振荡器来源的组件数据:1.寿命测试数据.2.MIL-HDBK-217,QT技术空间合格QT122L11S-32.895MHz的可靠性预测Life-test数据和MIL-HDBK-217计算如下所示:设计技术:QT128L11S设计采用了ASICFACT1.3μ技术ACMOS逻辑,辐射容忍100kRad(Si),近似热激活能量0.4eV和扫描石英在32.895MHz基本模式安装在a三(3)点安装.

MTBF(平均故障间隔时间)每年实际生命测试:对于5Vdc和+ 3.3Vdc三次泛音的相同设计,Q-Tech收集了在+ 125°C的石英晶振寿命测试期间,超过100,000个设备小时,没有故障,使用chisquare在60％置信水平下的分布,预测失败率如下:测试部件数量:100+部件号测试:具有第三个Overtone设计的MCM供电电压:+3.3Vdc和+5Vdc,负载:15pF//10kohms失败次数:0,测试温度:+125°C,小时数:100,000+,设备小时数=100,000devhrs,加速因子(AF)=e(Ea/k)*(1/T1-1/T2)其中Ea=0.4eV;k=8.62E-5eV/K;T1=298K;T2=398KAF=50(设备小时数xAFx2)MTBF=(对于60％置信水平的零失败,卡方=1.833)MTBF=5,455,537小时失败率=1/MTTF=183.3E-9FITS=失败率x1E9=183.

模具的绝对最大额定值:-绝对最大功耗:500mW,-绝对最高结温:+175°C,-绝对最大电源电压:+7Vdc,运行条件:-最大电流消耗:最大15mA.在+3.63V-ThetaJC=30°C/W.-ThetaJA=130°C/W.-最高温升:1.6°C,MTBF-PER-MIL-HBK-217:MTBF计算基于MIL-HBK-217和太空飞行环境(SF)环境温度+ 65°C,CL=90％,使用32.895MHz贴片晶体,基本模式为3.3Vdc±10％电源,16-FP封装,密封周长为1.8英寸.

材料清单:-封装,16-FP0.500"x0.375"(1.75英寸密封周长)数量:1,-微电路,ACMOS,数字数量:1,-互连Au-Au数量:22,-陶瓷,多层电容器,S级,25V数量:1,-OSC晶振,扫描，2mW数量：1,-电阻数量：1,-互连跳线数量：2,-基材数量：1,混合故障率=Σp(1+0.2πe)πfπqπlπe=0.5;πf=1;πq=0.25;πL=1[(1x0.000011)+(1x0.0045)+(1x0.0000079)+(1x0.0084)+(22x0.0013)+(1x0.015)](1+0.2 x0.5)(1.0x0.25x1.0)=0.016失败/106小时,混合动力QT128L11S故障率=0.016故障/114年FIT=16.

随着时间的移动,现如今已出现了20多种预测石英振荡器的生命周期的计算方法,MTBF(平均故障间隔时间)在如今的行业当中被无故的随意使用,因此让许多人对这个术语产生了猜疑,那么出现故障了在电路系统中就会导致产品整体失效或者个别组件失效,促使晶振产品无法实现本身该实现的功能.